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技術特點 主要特性 1、 優異的DWDM技術規格:FTB-5240 OSA具有優良的光抑制比(ORR)、分辯率帶寬、波長范圍和動態范圍,可提供極佳的靈活性的功率。FTB-5240B OSA具有更佳的光抑制比和高分辯率,適用于新一代的超密集波分復用。 2、 使用便捷:單鍵式操作。可透過簡易而直覺的觸摸屏界面執行各種自動化功能,圖形用戶界面(Graphical User Interface)提供與選項菜單及各種功能的連接。 3、 杰出的便攜性能:OSA內置于一個堅固質輕、鎂質外殼和橡膠減震裝置的FTB-400通用測試系統中,可承受在工作現場或從實驗室工作臺上掉落所產生的撞擊。 4、 最佳的光抑制比選件:新型FTB-5240B選件具有業界中最佳的光抑制比,可為光信噪比(OSNR)測量提供無比的精確度:0.1nm/可達40dBc,0.2nm/可達50dBc,0.4nm/可達55dBc. 5、 內部校準:新型FTB-5240B具有內部參考光源,可將C-/L-波段中的波長不確定性維持在±30pm. 6、 外部校準:可在執行測試之前利用外部光源重新校準OSA,C-/L-波段中的波長不確定性可達±15pm. 技術規范 FTB-5240 FTB-5240B 光譜測量 波長范圍(nm) 1250至1650 1250至1650 分辯率帶寬FWHM(nm) 0.065 0.033 波長不確定性(nm) ±0.05 ±0.03 ±0.015 ±0.015 波長測量重復性(nm) ±0.003 ±0.003 波長線性(nm) 典型 ±0.01 ±0.01 幅度測量 動態范圍(dBm) 18至-75 18至-75 功率不確定性(dB) ±0.4 ±0.4 光抑制比(dBc) 12.5GHz(±0.1nm) 典型 40 最小 35 25GHz(±0.2nm) 典型 40 50 最小 35 48 50GHz(±0.4nm) 典型 50 55 最小 45 50 PDL/1550nm(dB) 典型 ±0.07 ±0.07 最小 ±0.15 ±0.15 掃描時間(s) <1.5(35nm徑距、全分辯率、多波峰分析) 光回損(dB) >35 >35 |
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